《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）是2021年9月1日實施的一項中華人民共和國國家標準，歸口於全國人工晶體標準化技術委員會。
國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）規定了X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料的技術要求、質量保證規定和交貨準備。該標準適用於X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料。
基本介紹
- 中文名：X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範
- 外文名：Specification for cadmium-zinc telluride single crystal material for X-ray and γ-ray detector
- 標準號：GB/T 39123-2020
- 標準類別：產品
- 發布日期：2020-10-11
- 實施日期：2021-09-01
- 中國標準分類號：Q65
- 國際標準分類號：07.030
- 歸口單位：全國人工晶體標準化技術委員會
- 執行單位：全國人工晶體標準化技術委員會
- 主管部門：中國建築材料聯合會
- 性質：推薦性國家標準
- 狀態：現行
制定過程,制定背景,編制進程,制定依據,起草工作,標準目次,內容範圍,引用檔案,意義價值,
制定過程
制定背景
“X射線和γ射線探測用碲鋅鎘單晶材料”是國家、科技部規劃或者政策重點支持立項項目，屬於國家先進技術，獲得了多項“國家自然科學基金”項目、科技部項目和工信部項目的支持，並多次獲得國家和省部級獎勵。該材料也是國家重點支持產業，獲得了“國家重大科學儀器設備開發專項：新型CZT半導體X射線和γ射線探測器研究（2011YQ040082）”等國家課題的支持。
與此次申報的國家標準相對應的產品是是現階段市場急需的產品，對市場起到的支持作用。在空間科學技術領域，對各類天體發出的宇宙射線（硬X射線和γ射線）的觀測和分析，碲鋅鎘單晶材料有著無以倫比的優勢，發揮著不可或缺的作用。截止2018年，由於沒有與“X射線和γ射線探測用碲鋅鎘單晶材料”相關的國家標準及行業標準，僅有產品生產單位與產品使用單位商定的技術規範作為生產、檢驗的依據，但各單位對“X射線和γ射線探測用碲鋅鎘單晶材料”指標要求不同，技術規範僅局限於內部使用，不具有通用性。隨著“X射線和γ射線探測用碲鋅鎘單晶材料”技術趨於成熟，迫切需要一個標準來規範。
編制進程
- 標準計畫
2018年1月9日，國家標準計畫《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（20173470-T-609）下達，項目周期12個月，由中國建築材料聯合會提出，由TC461（全國人工晶體標準化技術委員會）歸口上報及執行，主管部門為中國建築材料聯合會。
- 發布實施
2020年10月11日，國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）由中華人民共和國國家市場監督管理總局和中華人民共和國國家標準化管理委員會發布。
2021年9月1日，國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）實施。
制定依據
國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）依據中國國家標準《標準化工作導則—第1部分：標準化檔案的結構和起草規則》（GB/T 1.1-2020）規則起草。
起草工作
主要起草單位：西北工業大學、陝西迪泰克新材料有限公司、上海大學。
主要起草人：介萬奇、谷智、徐亞東、查鋼強、王濤、湯三奇、魏登科、閔嘉華、張繼軍。
標準目次
前言 | Ⅲ |
|---|---|
1 範圍 | 1 |
2 規範性引用檔案 | 1 |
3 術語和定義 | 1 |
4 要求 | 2 |
5 測試方法 | 2 |
6 檢驗規則 | 6 |
7 包裝、標識、運輸和貯存 | 8 |
8 說明事項 | 8 |
參考資料：
內容範圍
國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）規定了X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料的技術要求、質量保證規定和交貨準備。該標準適用於X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料。
引用檔案
GB/T 1555 半導體單晶晶向測定方法 GB/T 6618 矽片厚度和總厚度變化測試方法 GB/T 24576 高分辯率X射線衍射測量GaAs襯底生長的 AlGaAs中A成分的試驗方法 | GB/T 14264 半導體材料術語 GB/T 29505 矽片平坦表面的表面粗糙度測量方法 GB/T 32188 氮化鎵單晶襯底片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法 |
參考資料：
意義價值
國家標準《X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規範》（GB/T 39123-2020）的制定，不僅可以使產品生產單位能夠提供標準化的產品，有利於提高產品通用性、一致性及可靠性，同時也可以作為產品使用單位和主管部門了解和監督產品質量的依據；有利於奠定開展空間X射線和γ射線探測用材料及器件的研製的基礎。
