X射線光電子譜和二次中性粒子質譜聯合系統

X射線光電子譜和二次中性粒子質譜聯合系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2018年9月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線光電子譜和二次中性粒子質譜聯合系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2018年9月13日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

主要技術指標，具體請聯繫廣西大學相關管理人。

主要功能

射線光電子譜和二次中性粒子質譜。