X光檢測儀

X光檢測儀是一種用於計算機科學技術領域的特種檢測儀器，於2013年10月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：X光檢測儀
• 產地：美國
• 學科領域：計算機科學技術
• 啟用日期：2013年10月18日
• 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器

技術指標

1、免維護閉管結構 2、130KV X光源 3、最小焦點直徑：5um 4、圖像增強器解析度：401p/mm 5、幾何放大倍數：130倍 6、系統放大倍數：1000倍 7、檢測軸向：5軸 8、2000mm（D）X 1422mm（W）X 1575mm（H）的內襯鉛機櫃 9、510mmX 610mm可移動樣品檢測空間 10、12位高解析度的6”/4”雙圖像增強器； 11、控制系統主機採用Dell品牌，配置19”純平顯示器 電源：交流220V 50Hz 10A。

主要功能

套用於電池行業、線路板行業、半導體封裝、汽車行業、線路板組裝（PCBA）行業等，對於封裝後內部物件的位置以及形態進行透視觀察測量，發現問題，確認是否合格，以及觀看產品內部狀況。