《X射線視覺自動檢測技術及套用》是2012年11月1日國防工業出版社出版的圖書，作者是韓躍平。
基本介紹
- 書名：X射線視覺自動檢測技術及套用
- 作者：韓躍平
- ISBN：9787118083866
- 頁數：216
- 定價：46.00元
- 出版社：國防工業出版社出版
- 出版時間：2012-11
內容簡介,目錄,
內容簡介
《X射線視覺自動檢測技術及套用》(作者韓躍平)共8章，第1、2章從基本概念和原理上介紹X射線檢測基礎、X射線檢測設備與系統：作為本書的核心，第3、4、6章重點闡述X射線視覺自動識別理論、X射線自動識別的成像系統、基於特徵的產品快速自動識別；第5章簡要介紹產品識別中的X射線圖像預處理；第7章以作者的實際工程案例佐證前述理論；第8章簡介新興的X射線光柵成像技術並展望其在工業領域的套用前景。
《X射線視覺自動檢測技術及套用》可為從事X射線無損檢測、模式識別、計算機視覺的科技人員提供參考。
目錄
第1章X射線檢測基礎
1.1x射線
1.1.1x射線的發現與產生
1.1.2x射線的特點與性質
1.2x射線與物質的相互作用
1.2.1散射作用
1.2.2光電效應
1.2.3電子對效應
1.3x射線的衰減規律
1.3.1單色射線的衰減規律與半厚度
1.3.2寬束、連續譜射線的衰減規律
1.3.3多色射線的衰減規律
1.4x射線的折射與小角散射
1.4.1x射線的折射
1.4.2x射線的小角散射
1.5x射線的檢測原理與特點
1.5.1x射線檢測原理
1.5.2x射線檢測特點
1.6常見檢測缺陷及其影像特徵
1.6.1鑄件中的常見缺陷
1.6.2焊件中的常見缺陷
1.6.3表面缺陷
1.6.4缺陷深度的確定
1.65產品的裝配結構缺陷
參考文獻
第2章X射線檢測設備與系統
2.1x射線機
2.1.1x射線機的結構與分類
2.1.2x射線機的基本組成
2.1.3x射線機的工作過程
2.1.4x射線機的技術性能
2.1.5x射線機的常見故障與維護
2.2x射線探測器
2.2.1膠片
2.2.2螢光屏
2.2.3像增強器
2.2.4線性二極體陣列
2.2.5影像板
2.2.6平板探測囂
2.2.7CMOS線性陣列
2.2.8x射線管道爬行器
2.3圖像採集卡
2.4防護裝置
2.5常用x射線檢測系統
2.5.1螢光透視成像系統
2.5.2膠片成像系統
2.5.3cR成像系統
2.5.4DR成像系統
2.5.5cT成像系統
參考文獻
第3章X射線自動識別理論
3.1x射線視覺基礎
3.1.1計算機視覺綜述
3.1.2x射線視覺檢測技術現狀
3.1.3工廠實際檢測手段
3.2三維結構體全方位自動識別理論
3.2.1完備的全方位檢測原理
3.2.2自動檢測可行性的理論分析
3.2.3空間採樣準則的提出
3.3有限方位下對產品的快速識別
3.3.1樣本圖像的隨機序列表示
3.3.2樣本圖像隨機序列的矩陣表示
3.3.3利用相關係數矩陣對產品的檢測理論
參考文獻
第4章X射線自動識別的成像系統
4.1成像系統的總體設計
4.1.1自動識別系統總體結構流程
4.1.2x射線DR檢測系統的不足
4.1.3自動檢測成像系統總體設計
4.2系統最佳化
4.2.1透度靈敏度
4.2.2空間解析度
4.2.3密度解析度
4.2.4射線能量利用率
4.3成像系統關鍵模組的選取與設計
4.3.1x射線機
4.3.2成像器件
4.3.3多工位高精度檢測工作檯
4.3.4準直器
4.3.5射線防護
4.3.6打標裝置
4.4自動檢測系統的整體工作節拍
參考文獻
第5章X射線圖像的預處理
5.1圖像預處理綜述
5.2圖像降噪
5.3目標圖像分割
5.3.1水平方向目標範圍的確定
5.3.2垂直基準的確定
參考文獻
第6章基於特徵的產品快速自動識別
6.1多模式分類策略
6.1.1多類模式的並行識別
6.1.2多類模式的串列識別
6.2產品與目標的結構類型及檢測要求
6.2.1產品分類
6.2.2產品內部識別目標的分類
6.3圖像模式識別算法的評價標準
6.4典型的多模式分類降維識別方法
6.4.1基於主成分分析法
6.4.2基於方向選擇的投影法
6.5特徵提取
6.5.1圖像特徵的選擇
6.5.2分層面多目標特徵提取
6.5.3全方位識別特徵
6.5.4識別特徵基
6.6基於神經網路的快速識別
6.6.1神經網路模型的建立
6.6.2BP網路模型的最佳化
參考文獻
第7章工程案例
7.1硬體組成
7.2軟體系統
7.2.1檢測主體流程
7.2.2總體結構
7.2.3軟體功能模組及主要程式流程
7.3現場套用試驗與結果分析
7.3.1檢測試驗
7.3.2多□值確定與識別準確率評估技術
7.4技術與系統推廣
參考文獻
第8章x射線光柵成像技術及其套用展望
8.1綜述
8.2x射線一維光柵成像
8.2.1實驗裝置與方法
8.2.2存在的問題與改進措施
8.2.3對精密相位步進的鬆弛
8.2.4高解析度大視場光柵成像
8.3多維光柵成像
8.3.1二維光柵成像
8.3.2光柵四維成像
8.4光柵成像技術在微細結構體識別領域的展望
參考文獻
1.1x射線
1.1.1x射線的發現與產生
1.1.2x射線的特點與性質
1.2x射線與物質的相互作用
1.2.1散射作用
1.2.2光電效應
1.2.3電子對效應
1.3x射線的衰減規律
1.3.1單色射線的衰減規律與半厚度
1.3.2寬束、連續譜射線的衰減規律
1.3.3多色射線的衰減規律
1.4x射線的折射與小角散射
1.4.1x射線的折射
1.4.2x射線的小角散射
1.5x射線的檢測原理與特點
1.5.1x射線檢測原理
1.5.2x射線檢測特點
1.6常見檢測缺陷及其影像特徵
1.6.1鑄件中的常見缺陷
1.6.2焊件中的常見缺陷
1.6.3表面缺陷
1.6.4缺陷深度的確定
1.65產品的裝配結構缺陷
參考文獻
第2章X射線檢測設備與系統
2.1x射線機
2.1.1x射線機的結構與分類
2.1.2x射線機的基本組成
2.1.3x射線機的工作過程
2.1.4x射線機的技術性能
2.1.5x射線機的常見故障與維護
2.2x射線探測器
2.2.1膠片
2.2.2螢光屏
2.2.3像增強器
2.2.4線性二極體陣列
2.2.5影像板
2.2.6平板探測囂
2.2.7CMOS線性陣列
2.2.8x射線管道爬行器
2.3圖像採集卡
2.4防護裝置
2.5常用x射線檢測系統
2.5.1螢光透視成像系統
2.5.2膠片成像系統
2.5.3cR成像系統
2.5.4DR成像系統
2.5.5cT成像系統
參考文獻
第3章X射線自動識別理論
3.1x射線視覺基礎
3.1.1計算機視覺綜述
3.1.2x射線視覺檢測技術現狀
3.1.3工廠實際檢測手段
3.2三維結構體全方位自動識別理論
3.2.1完備的全方位檢測原理
3.2.2自動檢測可行性的理論分析
3.2.3空間採樣準則的提出
3.3有限方位下對產品的快速識別
3.3.1樣本圖像的隨機序列表示
3.3.2樣本圖像隨機序列的矩陣表示
3.3.3利用相關係數矩陣對產品的檢測理論
參考文獻
第4章X射線自動識別的成像系統
4.1成像系統的總體設計
4.1.1自動識別系統總體結構流程
4.1.2x射線DR檢測系統的不足
4.1.3自動檢測成像系統總體設計
4.2系統最佳化
4.2.1透度靈敏度
4.2.2空間解析度
4.2.3密度解析度
4.2.4射線能量利用率
4.3成像系統關鍵模組的選取與設計
4.3.1x射線機
4.3.2成像器件
4.3.3多工位高精度檢測工作檯
4.3.4準直器
4.3.5射線防護
4.3.6打標裝置
4.4自動檢測系統的整體工作節拍
參考文獻
第5章X射線圖像的預處理
5.1圖像預處理綜述
5.2圖像降噪
5.3目標圖像分割
5.3.1水平方向目標範圍的確定
5.3.2垂直基準的確定
參考文獻
第6章基於特徵的產品快速自動識別
6.1多模式分類策略
6.1.1多類模式的並行識別
6.1.2多類模式的串列識別
6.2產品與目標的結構類型及檢測要求
6.2.1產品分類
6.2.2產品內部識別目標的分類
6.3圖像模式識別算法的評價標準
6.4典型的多模式分類降維識別方法
6.4.1基於主成分分析法
6.4.2基於方向選擇的投影法
6.5特徵提取
6.5.1圖像特徵的選擇
6.5.2分層面多目標特徵提取
6.5.3全方位識別特徵
6.5.4識別特徵基
6.6基於神經網路的快速識別
6.6.1神經網路模型的建立
6.6.2BP網路模型的最佳化
參考文獻
第7章工程案例
7.1硬體組成
7.2軟體系統
7.2.1檢測主體流程
7.2.2總體結構
7.2.3軟體功能模組及主要程式流程
7.3現場套用試驗與結果分析
7.3.1檢測試驗
7.3.2多□值確定與識別準確率評估技術
7.4技術與系統推廣
參考文獻
第8章x射線光柵成像技術及其套用展望
8.1綜述
8.2x射線一維光柵成像
8.2.1實驗裝置與方法
8.2.2存在的問題與改進措施
8.2.3對精密相位步進的鬆弛
8.2.4高解析度大視場光柵成像
8.3多維光柵成像
8.3.1二維光柵成像
8.3.2光柵四維成像
8.4光柵成像技術在微細結構體識別領域的展望
參考文獻
