Si基濺射ZnO/Ga2O3膜反應自組GaN晶體膜的研究

Si基濺射ZnO/Ga2O3膜反應自組GaN晶體膜的研究

《Si基濺射ZnO/Ga2O3膜反應自組GaN晶體膜的研究》是依託山東師範大學,由莊惠照擔任項目負責人的重大研究計畫。

基本介紹

  • 中文名:Si基濺射ZnO/Ga2O3膜反應自組GaN晶體膜的研究
  • 項目類別:重大研究計畫
  • 項目負責人:莊惠照
  • 依託單位:山東師範大學
  • 批准號:90301002
  • 申請代碼:E02
  • 負責人職稱:副教授
  • 研究期限:2004-01-01 至 2006-12-31
  • 支持經費:25(萬元)
項目摘要
利用射頻濺射法在Si基襯底上製備納米ZnO緩衝層後,再在緩衝層上濺射Ga2O3膜,在管式爐中通NH3,控制氣體流量、爐溫和時間,反應自組GaN晶體膜。並探索P型摻雜。研究膜的結構形貌及其穩定性,研究發光特性及機理,研究其電子輸運特性,研究P型摻雜機理,研究納米ZnO緩衝層的作用及Ga2O3膜反應自組GaN膜的原理,為製備GaN晶體膜材料探索新方法,為製作GaN光電子器件開闢新的工藝途徑。

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