RFID性能測試

RFID測試

以往的RFID系統測試的測試對象是RFID系統而非系統中的每種設備（讀寫器、標籤、天線），因此可能產生一種後果，即系統中任何一部分的改變都會使測試結果發生變化，例如更換或增加一種性能較差的RFID標籤後，RFID系統的識別範圍就將根據新RFID標籤的性能變化，而讀速率也將受到影響，原有的系統測試結果無法作為參考。而為了全面獲得RFID系統整體的性能參數，只能對不同設備的組合一一進行測試，這將對測試的工作量造成極大的負擔。因此需要為系統中每種設備的獨立性能指標進行測試，以此更加準確地表現出設備的性能指標，節省測試的時間和成本，獲得更有價值的RFID產品性能資料庫。

標準簡介

超高頻RFID 標籤性能測試規範主要包括ISO/IEC 18046-3 Test Methods for Tag Performance (標準原文見ISO官網Standards catalogue>Browse by ICS>35>35.040>35.040.50>ISO/IEC 18046-3:2012)、EPCglobal Class1 Generation2 - UHF RFID Tag Performance (標準原文見GS1官網>Standards>EPC/RFID>Test Centres>Approved Test Methods)、GS1 Tagged-Item Performance Protocol (TIPP) Testing Methodology (標準原文見GS1官網>Standards>EPC/RFID>Tagged-Item Performance Protocol (TIPP) Guideline)。其中ISO 18046-3是ISO 18000全系列通信協定的性能測試規範，涵蓋超高頻ISO 18000-63通信協定。EPCglobal Tag Performance 是EPCglobal Class1 Generation2 通信協定的性能測試規範（Approved Test Methods）。GS1 TIPP 是EPCglobal Class1 Generation2 通信協定的套用指導規範（Implementation Guidelines），主要面向於服裝行業。

測試項目

在靜態性能測試中ISO測試標準的測試單位為場強（V/m），EPC測試標測試單位為距離（m），GS1 TIPP測試標準測試單位為功率（dBm），這三類測試數據可採用理論公式進行換算。

測試項目	ISO 18046-3	EPCglobal Tag Performance	GS1 TIPP
靜態性能測試	識別電場強度閾值和頻率峰值	識讀距離	識讀靈敏度（頻率曲線）
	識別電場強度閾值和頻率峰值	頻率容限	識讀靈敏度（頻率曲線）
	讀電場強度閾值	無	無
	寫電場強度閾值	寫距離	無
	無	寫時間	無
	靈敏度降級	方向容限	識讀靈敏度（角度曲線）
	最大工作電場強度	無	無
	生存電場強度	無	無
	雷達散射截面變化率	反向散射距離	反向散射功率
	干擾抑制	干擾容限	無
	無	臨近標籤測試	無
動態性能測試	最大識別變化率	無	無
動態性能測試	最大寫變化率	無	無

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基本介紹

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測試項目

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