MAP®（Measures of Academic Progress），是一種基於網路的電腦自適應測試，它基於每一名受測者的學業水平為其提供個性化的測試體驗，準確地評價出每一名受測者當前的學業水平、確定其學習能力的最近發展區域；由於MAP®測試從幼稚園到高中畢業採用的是一套穩定不變的評分體制，該測試可以用分數（RIT值量表）直觀地反映出受測者的學習成長軌跡，準確地評價出學生在不同年級、不同學期的學習進展情況。相較於傳統測試，MAP®測試能夠讓測試數據最大化地發揮其效果，讓教師、家長和學生真正能基於測試數據幫助學生進步。
基本介紹
- 中文名：中國小學業成長測試
- 外文名：Measures of Academic Progress
- 研發機構：美國西北測評協會
- 代理機構：北京邁瑞科教育科技有限公司
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測試研發機構
MAP®測試由美國西北測評協會（NorthwestEvaluationAssociation,NWEA™，以下簡稱“NWEA”）研發，NWEA是美國國內最大的教育測評機構，也是全球性的非營利教育服務機構。從1976年至今（2014年）已擁有近40年的測評經驗，與美國國家研究院，著名的常春藤大學，各州的教育機構保持合作關係，致力於從Pre-K開始到大學入學前的學生的學科能力測評，能幫助教師提供很具體的學生能力情況，便於因材施教，改進教學；也能幫助家長學生規劃學習。
兩種形式
1）MAP®（MeasuresofAcademicProgress）：適用於2–12年級。
2）MapforPrimaryGrades(MPG)：適用於K–2年級。由於K–2年級學生的識字和閱讀能力有限，因此MPG的測試系統配備了每道題目的語音提示，讓考生可以通過聽來理解題目要求及題意。
測試的特點
1）MAP®測試為個性化測試。
MAP®測試採取自適應測試的方式，測試內容動態地根據學生上一道答題結果而變化。在MAP®測試過程中，題目難度會隨著考生答題狀況而變化，並最終穩定在學生學習能力的最近發展區域。這讓MAP®測試成為一種針對每一名考生學業水平的個性化測試，無論學生的學業水平是處於、高於或低於其所在年級的平均水平，該學生都能獲得一套針對其個人學業能力的考卷。這也使得MAP®測試能提供針對每一名學生的準確的評估結果，清晰反映每一位考生在當前學習中每科的強項、弱項，以及在未來學習中需要重點關注的領域。
2）MAP®測試可以反映學生成長。
MAP®測試的成績是用RIT量表來體現。RIT量表是一種用來測量學生成績和成長的等間距（equal-interval）量表，該量表與學生的年齡和所在的年級無關（age-independentandgrade-independent），為教師和家長跨時期、跨年級追蹤比較學生學業上的進步提供數據，可以幫助教師及時判斷教學方案的有效性，也可以幫助教師和家長更理性地幫助學生設定學習目標，量身定製學習方案。
內容範疇
MAP®測試是一種測量學業進步的階段性測試，而不是每年一次的考察學生是否達到學習目標的考試。MAP®測試每年可以進行3–4次，從而測量評價每個學生在一段時期內的學習進步情況。MAP®測試的題庫是根據美國國家課程標準、各州州立標準和IB課程設標準而創建的。考試科目包括語文（閱讀和語言綜合運用），數學，和科學。
代理機構
北京邁瑞科教育科技有限公司（Beijing Metrics Educational Technology Co. Ltd，以下簡稱邁瑞科）已與美國西北測試協會（NorthwestEvaluationAssociation,NWEA™）和美國Languametrics公司（美國斯坦福國際研究院SRI參股公司）簽約，成為兩機構產品和技術在華（包括港、澳、台地區）的獨家代理機構。
