《HL-2A電漿破裂期間逃逸電子行為及其緩解實驗研究》是依託核工業西南物理研究院，由張軼潑擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：HL-2A電漿破裂期間逃逸電子行為及其緩解實驗研究
- 項目類別：面上項目
- 項目負責人：張軼潑
- 依託單位：核工業西南物理研究院
項目摘要,結題摘要,
項目摘要
對於目前和未來的聚變實驗裝置來說，如何保證裝置的安全運行是首要的關鍵問題。電漿破裂期間易產生大量的高能逃逸電子，這些電子形成逃逸束並局域地轟擊裝置第一壁，這對裝置的安全運行構成了致命的威脅。因此，近二十年來國際上很多裝置開展了破裂逃逸電子實驗研究，並取得了很大進展。但是，破裂逃逸電子的很多問題還沒有完全解決，仍需深入研究，例如：不同產生機制在破裂逃逸電子產生中的作用，逃逸電子束的形成和遷移，如何有效地緩解破裂逃逸電子等。本項目將在HL-2A裝置上對破裂逃逸電子行為進行系統研究並深入探索有效的破裂逃逸電子緩解手段。HL-2A配備有多種高功率輔助加熱及補充加料系統和豐富的診斷系統，同時我們在青年科學基金項目（11005036）期間發展和完善了逃逸電子診斷系統，這使得我們可以在HL-2A上深入開展破裂逃逸電子行為及其緩解實驗研究。這些研究對於ITER具有重要的物理意義。
結題摘要
逃逸電子物理以及發展有效的控制手段是當前托卡馬克電漿物理研究的熱點之一。本項目在HL-2A裝置完善和發展了三套逃逸電子診斷系統，主要包括：研製了BGO硬X射線測量系統，建立高速可見光相機系統和完善紅外相機系統，為破裂逃逸電子實驗研究提供完善的實驗平台。在HL-2A裝置開展了破裂逃逸電子實驗研究，主要包括：電漿破裂期間逃逸電流平台實驗研究和磁擾動對逃逸電子產生的影響。利用LHCD，LBO，MGI和RMP實驗研究了LHCD對逃逸電子產生增強，磁擾動抑制或避免破裂逃逸電子產生，破裂逃逸電子束產生和逃逸電流平台的形成。
