FX三維雷射掃描裝置是一種用於材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器，於2013年1月11日啟用。
基本介紹
- 中文名：FX三維雷射掃描裝置
- 產地：美國
- 學科領域：材料科學、礦山工程技術
- 啟用日期：2013年1月11日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
雷射波長：685nm紅光；雷射功率：15毫瓦；IEC安全等級：3R級；測試技術：相位雷射；光斑直徑：2.3mm@5m、16mm@46m；數據獲取速度：最大1200000pps；最大測程：140m；測試精度：＜0.6mm@11m、＜0.8mm@21m、＜2.4mm@50(90%)m，2-pass：0.45mm@11m；0.5mm@21m；1.5mm@50m；角度解析度8’’；水平觀察區域：360°；垂直觀察區域：270°；角度精度1.6mm@11m；3mm@21m；8mm@50m；防水防塵。
主要功能
掃描平面相似模型、礦山及工業廣場、邊坡、隧道等三維圖像，測量其變形尺寸。
