EMI和EMS測試系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，產地為日本，於2010年5月3日啟用。
基本介紹
- 中文名：EMI和EMS測試系統
- 產地：日本
- 學科領域：電子與通信技術
- 啟用日期：2010年5月3日
- 所屬類別：電子測量儀器 > 射頻和微波測試儀器 > EMI/EMC測試系統
技術指標,主要功能,
技術指標
10m法電波暗室尺寸：23m(L)x19m(W)x9.7m(H)；禁止效能：14kHz:60dB；100kHz-1GHz:100dB；1GHz-18GHz:90dB；NSA：±3.0dB；SVSWR：＜5.0dB；FU：＜5.0dB； 3m法電波暗室尺寸：11m（L）x7m(W)x7.5m(H)：禁止效能：14kHz:60dB；100kHz-1GHz:100dB；1GHz-18GHz:90dB；NSA：±3.0dB；SVSWR：＜5.0dB；FU：＜5.0dB； 測試室尺寸：4.8m(L)x4.8m(W)x3.2m(H)；AmpLoad室尺寸：4.8m(L)x2.0m(W)x3.2m(H)；禁止室尺寸：8m(L)x4m(W)x3m(H)。
主要功能
半電波暗室和全電波暗室以及禁止室可用於電磁兼容EMI和EMS測試。
