半導體雷射器是由有源區增益部分激發發射光並輸出,當輸出光功率逐漸升高時,腔面區域吸收光,從而產生熱,並引發“熱失控” ,最終成為不可逆轉的光學破壞，即光學災變損傷(COD)。
基本介紹
- 中文名：光學災變損傷
- 外文名：Catastrophic optical damage
- 別名：災變性光學鏡面損傷
光學災變損傷，亦稱為災變性光學鏡面損傷（COMD，Catastrophic optical mirror damage），是大功率雷射器的一種故障模式。
它是由於半導體結因超過功率密度而過載並吸收太多增益產生的光能，導致腔面區域的熔化、再結晶。受影響的區域將產生大量的晶格缺陷，破壞了器件的性能。當影響區域足夠大時，將在光學顯微鏡下觀察到腔面變黑以及裂縫、溝槽等現象。COD能夠在單個脈衝作用下產生，作用時間僅需不到1ms，具體所需時間與功率密度成反比。
COD是阻礙半導體雷射器性能提升的限制因素之一，在短波長雷射器中更易發生，是AlGaInP/AlGaAs紅光雷射器的主要故障模式。它發生的典型值為12~20MW/cm2。COD可以通過製備腔面鈍化保護薄膜來解決。
相關資料：
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