高速存儲器測試系統

高速存儲器測試系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2018年12月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：高速存儲器測試系統
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2018年12月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1、I/O數為288ch。 2、測試頻率為400MHz。 3、ALPG存儲器測試單元數量為4個。 4、單元容量X為24 bits，Y為24 bits。 5、DC測試單元為24 ch PPS電源為48 ch。

主要功能

積體電路電特性測試。