《高速光電子器件封裝和測試》是2007年科學出版社出版的圖書，作者是祝寧華。
基本介紹
- 書名：高速光電子器件封裝和測試
- 作者：祝寧華
- 出版社：科學出版社
- 出版時間：2007年07月
- 頁數：292 頁
- 定價：48.00 元
- 裝幀：平裝
- ISBN：9787030191984
內容簡介
《光電子器件微波封裝和測試》重點討論與光電子器件高速特性相關的晶片測試分析、器件微波封裝、高頻性能測試、等效電路分析模型、寄生參數的影響及器件封裝最佳化設計等方面問題。對器件封裝設計中的光耦合問題和熱力學設計問題不作深入的介紹。但當光耦合和熱力學設計結構的對器件高頻特性有一定影響時，將結合高速光電子器件的微波封裝進行綜合討論。
