高解析度掃描電子顯微鏡

高清晰度電子顯微鏡 高清晰度電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、化學領域的分析儀器，於2012年9月1日啟用。技術指標 解析度8 nm。主要功能 用於觀察導電物體的表面形貌，無法觀察深度信息。