《高溫超導薄膜微波表面電阻測試(GB/T 22586-2008)》等同採用IEC 61788—7：2006《電子性能測量微波頻率下超導體的表面電阻》（英文版），在技術內容上與該國際標準一致。本標準的附錄A為資料性附錄。本標準由國家超導技術聯合研究開發中心和全國超導標準化技術委員會提出。本標準由全國超導標準化技術委員會歸口。本標準負責起草單位：電子科技大學。本標準參加起草單位：清華大學、南京大學、中國科學院物理研究所。本標準主要起草人：羅正祥、劉宜平、李宏成、吉爭鳴、鄭東寧、許偉偉、張其劭、魏斌、曾成。
基本介紹
- 書名：高溫超導薄膜微波表面電阻測試
- 作者：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
- 出版日期：2009年3月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066135935
- 外文名：Measurements of Surface Resistance of High Temperature Superconductor Thin Films at Microwave Frequencies
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：16頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《高溫超導薄膜微波表面電阻測試(GB/T 22586-2008)》由中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局，中國國家標準化管理委員會發布。
圖書目錄
前言
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語和定義
4要求
5裝置
5.1測試系統
5.2 Rs測試腔體
5.3介質柱
6測試步驟
6.1樣品準備
6.2系統構建
6.3參考電平的測試
6.4諧振器頻響特性的測試
6.5超導薄膜的表面電阻Rs、標準藍寶石柱的ε’和tanδ的確定
7測試方法的精密度和精確度
7.1表面電阻
7.2溫度
7.3樣品和支撐結構
7.4樣品的保護
8測試報告
8.1被測樣品的標識
8.2Rs值報告
8.3測試條件報告
附錄A（資料性附錄）與第1章～第8章相關的附加資料
參考文獻
圖1使用制冷機測試Rs隨溫度變化特性的裝置圖
圖2典型的Rs測試腔體示意圖
圖3 T（K）溫度下的插入損耗IA、諧振頻率f0和半功率點頻寬△f
圖4反射係數（S11和S22）
圖5表4中術語的定義
圖A.1各種測量微波表面電阻Rs方法結構示意圖
圖A.2兩端由兩片沉積在介質基片上的超導薄膜短路圓柱形介質諧振器的幾何結構
圖A.3TE01p模式的u—v和W—v關係的計算結果
圖A.4測量Rs、tanδ的標準介質柱的電磁場結構
圖A.5三種形式的諧振器的結構示意圖
圖A.6設計平行超導薄膜兩端短路的TE011諧振器的模式圖
圖A.7設計平行超導薄膜兩端短路的TE013諧振器的模式圖
圖A.8閉合式TE011諧振器的模式圖
圖A.9閉合式TE013諧振器的模式圖
表112 GHz、18 GHz、22 GHz時標準藍寶石介質柱的典型尺寸
表212 GHz、18 GHz、22 GHz時超導薄膜的尺寸
表3矢量網路分析儀的參數
表4藍寶石介質柱參數
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語和定義
4要求
5裝置
5.1測試系統
5.2 Rs測試腔體
5.3介質柱
6測試步驟
6.1樣品準備
6.2系統構建
6.3參考電平的測試
6.4諧振器頻響特性的測試
6.5超導薄膜的表面電阻Rs、標準藍寶石柱的ε’和tanδ的確定
7測試方法的精密度和精確度
7.1表面電阻
7.2溫度
7.3樣品和支撐結構
7.4樣品的保護
8測試報告
8.1被測樣品的標識
8.2Rs值報告
8.3測試條件報告
附錄A（資料性附錄）與第1章～第8章相關的附加資料
參考文獻
圖1使用制冷機測試Rs隨溫度變化特性的裝置圖
圖2典型的Rs測試腔體示意圖
圖3 T（K）溫度下的插入損耗IA、諧振頻率f0和半功率點頻寬△f
圖4反射係數（S11和S22）
圖5表4中術語的定義
圖A.1各種測量微波表面電阻Rs方法結構示意圖
圖A.2兩端由兩片沉積在介質基片上的超導薄膜短路圓柱形介質諧振器的幾何結構
圖A.3TE01p模式的u—v和W—v關係的計算結果
圖A.4測量Rs、tanδ的標準介質柱的電磁場結構
圖A.5三種形式的諧振器的結構示意圖
圖A.6設計平行超導薄膜兩端短路的TE011諧振器的模式圖
圖A.7設計平行超導薄膜兩端短路的TE013諧振器的模式圖
圖A.8閉合式TE011諧振器的模式圖
圖A.9閉合式TE013諧振器的模式圖
表112 GHz、18 GHz、22 GHz時標準藍寶石介質柱的典型尺寸
表212 GHz、18 GHz、22 GHz時超導薄膜的尺寸
表3矢量網路分析儀的參數
表4藍寶石介質柱參數
