高溫偏光顯微鏡

高溫偏光顯微鏡是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2011年6月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫偏光顯微鏡
• 產地：德國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2011年6月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

可獲得12.5、25、50、100、200、500、1000倍的高分辨顯微圖像。

主要功能

單偏光、正交偏光、反射光、螢光顯微成像。