高清晰度電子顯微鏡

高清晰度電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、化學領域的分析儀器，於2012年9月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：高清晰度電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學、化學
• 啟用日期：2012年9月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

解析度8 nm。

主要功能

用於觀察導電物體的表面形貌，無法觀察深度信息。