高樣本通量差示掃描量熱儀

《高樣本通量差示掃描量熱儀》是沃特世科技公司於2019年10月10日申請的專利，該專利公布號為CN112912721A，專利公布日為2021年6月4日，發明人是D·J·拉塞爾、D·塞雷爾、A·E·阿內里奇。

基本介紹

• 中文名：高樣本通量差示掃描量熱儀
• 申請公布號 ：CN112912721A
• 申請公布日 ：2021.06.04
• 申請號 ：2019800699623

基本信息

申請日	2019.10.10
申請人	沃特世科技公司
地址	美國麻薩諸塞州
發明人	D·J·拉塞爾; D·塞雷爾; A·E·阿內里奇
Int. Cl.	G01N25/48(2006.01)I
專利代理機構	中國專利代理(香港)有限公司72001
代理人	石宏宇; 楊忠
優先權	62/748682 2018.10.22 US
PCT進入國家階段日	2021.04.22
PCT申請數據	PCT/US2019/055532 2019.10.10
PCT公布數據	WO2020/086280 EN 2020.04.30

專利摘要

本發明描述了一種能夠同時進行多個樣本的分析的差示掃描量熱儀(DSC)儀器。本文所述DSC儀器的一些實施方案包括在基底的整個表面上提供基本上均勻的溫度的熱基底。多個DSC單元例如通過將該單元直接安裝到該基底的該表面而與該基底熱連通。每個DSC單元包括用於進一步熱隔離的第二熱基底以及分別用於接納參考室和樣本室的參考平台和樣本平台。熱電裝置設定在每個平台與該第二熱基底之間。任選地，該參考室和該樣本室可以是可在執行測量之後丟棄的一次性晶片，從而減少或消除清潔儀器部件以防止後續儀器操作的交叉污染的需要。