| 中文名稱 | 高分辨電子顯微術 |
| 英文名稱 | high resolution electron microscopy，HREM |
| 定 義 | 利用透射電子顯微鏡將固體物質中原子排列投影成像的理論和技術。其分辨能力接近或達到原子尺度(約0.1nm)。對顯示材料結構納米尺度的變異及缺陷有獨到的優點。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 高分辨電子顯微術 |
| 英文名稱 | high resolution electron microscopy，HREM |
| 定 義 | 利用透射電子顯微鏡將固體物質中原子排列投影成像的理論和技術。其分辨能力接近或達到原子尺度(約0.1nm)。對顯示材料結構納米尺度的變異及缺陷有獨到的優點。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |