高分辨質譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2012年03月01日啟用。
基本介紹
- 中文名：高分辨質譜儀
- 產地：中國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2012年03月01日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
可測量小數點後第四位，偏差在3~5ppm。
主要功能
在加參比的情況下，可推測化合物的分子式或者已知分子式的情況下測定理論與測定值之間的偏差。
高分辨質譜儀
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