高分辨冷場掃描電鏡是一種用於化學、生物學領域的分析儀器,於2011年03月16日啟用。
基本介紹
- 中文名:高分辨冷場掃描電鏡
- 產地:日本
- 學科領域:化學、生物學
- 啟用日期:2011年03月16日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
二次電子解析度1.0nm(15KV),2.0nm(1KV),1.4nm(1KV減速模式);加速電壓0.5-30KV(0.1KV/步,可變),放大倍率:X20-X800000;二次電子檢測器,物鏡光闌,4孔,真空外選擇和調校。
主要功能
高解析度觀測。