高分辨光學測試系統

高分辨光學測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2009年12月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨光學測試系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2009年12月01日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

解析度：2ps；同步頻率：75.76MHz；輸入波長：200nm-1600nm。

主要功能

測量光學非線性材料的發光壽命，超快光過程。