高光譜檢測儀

高光譜檢測儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2018年11月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：高光譜檢測儀
• 產地：美國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2018年11月10日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀

技術指標

用於對大量樣本進行光譜建模以及快速數據分析，波長範圍：350~2500nm。

主要功能

采後加工營養分析加工。