飛行時間二次離子質譜儀是一種用於化學、生物學、基礎醫學、藥學領域的分析儀器，於2018年05月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：飛行時間二次離子質譜儀
- 產地：德國
- 學科領域：化學、生物學、基礎醫學、藥學
- 啟用日期：2018年05月21日
- 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器 > 有機質譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
12000；質量＞200時，質量分辨＞ 17000；絕緣樣品PET（104u），分辨＞12000 3. 質量精度：1 mamu (質量數< 100)；10 ppm (質量數> 100) 4. 靈敏度：1 x 107 atom/cm2 readonly＞1. 空間解析度：橫向：12000；質量＞200時，質量分辨＞ 17000；絕緣樣品PET（104u），分辨＞12000 3. 質量精度：1 mamu (質量數< 100)；10 ppm (質量數> 100) 4. 靈敏度：1 x 107 atom/cm2。
主要功能
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）作為最前沿實用的表面分析技術之一，可以通過離子束對樣品表面進行轟擊產生的二次離子可以精確確定表面元素的構成；通過對分子離子峰和官能團碎片的分析可以方便的確定表面化合物和有機樣品的結構；配合樣品表面掃描和剝離，可以得到樣品表面甚至三維的成分圖，是表征元素和化合物空間結構的有力工具，是高靈敏，高分辨質譜成像分析的重要技術平台。
