顆粒物綜合測量系統

顆粒物綜合測量系統

顆粒物綜合測量系統是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的大氣探測儀器,於2011年12月21日啟用。

基本介紹

  • 中文名:顆粒物綜合測量系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:環境科學技術及資源科學技術
  • 啟用日期:2011年12月21日
  • 所屬類別:大氣探測儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

顆粒物粒徑測量範圍:2.51000nm最大粒徑解析度:每十倍粒徑64通道最大總通道數:167通道氣溶膠濃度:1-108個/cm3掃描時間:30-600秒,快速連續掃描每個掃描的測量時間:20-300秒氣溶膠流速:0.2-2L/min鞘氣流速:2-20L/min。

主要功能

提供高解析度和精確的顆粒物粒徑分布和數濃度測量。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們