面陣螢光成像微陣列晶片掃瞄器技術要求

《面陣螢光成像微陣列晶片掃瞄器技術要求》是2017年12月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：面陣螢光成像微陣列晶片掃瞄器技術要求
• 外文名：Technical requirement of area fluorescent imaging microarray scanner
• 標準號：GB/T 33806-2017
• 標準類別：產品

編制進程

2017年5月31日，《面陣螢光成像微陣列晶片掃瞄器技術要求》發布。

2017年12月1日，《面陣螢光成像微陣列晶片掃瞄器技術要求》實施。

起草工作

主要起草單位：博奧生物集團有限公司 。

主要起草人：黃國亮 、劉豫 。