靜態二次離子質譜法

靜態二次離子質譜法（static secondary ion mass spectrometry）是2016年公布的化學名詞。

基本介紹

• 中文名：靜態二次離子質譜法
• 外文名：static secondary ion mass spectrometry
• 所屬學科：化學
• 公布時間：2016年

定義

使用較低初級離子流密度的二次離子質譜分析法。基本上不破壞被轟擊的樣品表面。

出處

《化學名詞》第二版。