電輸運性質測試系統是一種用於物理學領域的科學儀器,於2006年5月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:電輸運性質測試系統
- 產地:中國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2006年5月6日
技術指標,主要功能,
技術指標
樣品尺寸: (1)小尺寸雙面樣品卡,面積為12×12mm2(隨機配送10個);(2)大尺寸單面樣品卡,面積為50×50mm2(隨機配送10個);(3)探針樣品卡,可測樣品尺寸範圍:1×1mm2, , ~30×30mm2(隨機配送1個)。
樣品的接線方式:(1)霍爾效應測量:Van der Pauw;Hall bar 1-2-2-1;Hall bar 1-3-1-1;Hall bar 1-3-3-1。
(2)I-V特性和磁電阻測量: 直列四點法。
主要功能
可以進行霍爾效應、I-V特性(電阻率)及磁電阻(MR)的測量; 可得出參數:霍爾效應――方塊電阻、電阻率、霍爾係數、導電類型、霍爾遷移率、載流子濃度;I-V特性的MR的特性曲線包括:不同磁場下的I-V特性曲線;不同溫度下的I-V特性曲線;不同磁場下的變溫I-V特性曲線;不同溫度下的變磁場I-V特性曲線;電阻隨溫度、磁場變化的特性曲線;P-B曲線。