《電磁兼容設計與測試技術》是2008年北京航空航天大學出版社出版的圖書，作者何宏。
基本介紹
- 中文名：電磁兼容設計與測試技術
- 作 者：何宏
- 出版社：北京航空航天大學出版社
- 出版時間：2008年05月
- ISBN：9787811241747
- 開本： 16開
- 定價： 29.00 元
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
以現有國際、國內電磁兼容標準為基礎，介紹電磁兼容設計與測試技術。主要內容包括電磁兼容技術概述和理論基礎，干擾耦合機理，傳輸線及干擾分析，電磁騷擾發射測量，抗擾度的測試，電磁兼容濾波、接地及禁止技術，印製電路板PCB的電磁兼容設計，電磁干擾故障診斷與解決技術等。《電磁兼容設計與測試技術》可作為電氣與電子工程、信息和計算機技術、自動控制與機電一體化、儀器和測試技術及生物醫學工程等專業的本科生和研究生的教材，還可作為從事電氣和電子產品研發、設計、製造、質量管理、檢測與維修等工程技術人員的參考書。
圖書目錄
第1章 電磁兼容技術概述1
第2章 電磁兼容理論基礎24
第3章 干擾耦合機理40
第4章 傳輸線及干擾分析68
第5章 電磁騷擾發射測量84
第6章 抗擾度的測試112
第7章 電磁兼容濾波、接地及禁止技術149
第8章 印製電路板PCB的電磁兼容設計178
第9章 電磁干擾故障診斷與解決方法206
附錄
參考文獻247
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