電子系統測試原理

內容簡介

隨著電子技術的不斷發展，電子系統測試面臨越來越大的挑戰：研究更精確的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜合過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹了測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來面對這些挑戰。

本書涉及開發可靠電子產品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助於測試的設計檢查；研究了如何將測試套用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。最後，提供了針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括：

●解釋了測試在設計中的作用。

●詳細討論了掃描路徑和掃描鏈的次序。

●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。

●針對FPGA的測試方法。

●晶片系統的測試。

圖書目錄

第I部分設計與測試

　第1章測試綜述

　　1.1 可靠性與測試

　　1.2 設計過程

　　1.3 驗證

1.3.1 功能模擬

1.3.2 時間模擬

　　1.4 測試

　　1.5 故障及其檢測

　　1.6 測試碼生成

　　1.7 故障覆蓋率

　　1.8 測試類型

1.8.1 窮舉測試

1.8.2 偽窮舉測試

1.8.3 偽隨機測試

1.8.4 確定性測試

　　1.9 測試套用

1.9.1 線上測試與離線測試

1.9.2 自動測試儀器

1.9.3 片上測試與片外測試

　　1.10 易測試性設計

1.10.1 可控性

1.10.2 可觀察性

　　1.11 測試經濟

1.11.1 收益和缺陷級

1.11.2 故障覆蓋率和缺陷級別

　　1.12 進一步研究

　　參考文獻

　　習題

　第2章缺陷、失效和故障

　　2.1 簡介

　　2.2 物理缺陷

2.2.1 材料過多和缺失

2.2.2 氧化物斷裂

2.2.3 電遷移

　　2.3 故障模式

2.3.1 開路

2.3.2 短路

　　2.4 故障

　　2.5 固定型故障

2.5.1 單固定型故障

2.5.2 多固定故障

　　2.6 故障列表

2.6.1 等價關係

2.6.2 支配關係

2.6.3 故障精簡

　　2.7 橋接故障

　　2.8 短路和開路故障

2.8.1 NMOS電路

2.8.2 CMOS電路

　　2.9 時延故障

　　2.10 暫時失效

2.10.1 瞬時故障

2.10.2 間歇故障

電子系統測試原理

基本介紹

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