《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法:顯微結構的測定(GB 5594.8-1985)》適用於氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結構陶瓷顯微結構的測定。本標準只涉及光學顯微鏡的測定內容和測定方法。本標準為中華人民共和國國家標準，國家標準局批准，1985—11—27發布，1986—12—01實施。
基本介紹
- 書名：電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法:顯微
- 作者：國家標準局
- 出版日期：1986年7月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：155066124324
- 外文名：Test Methods for Properties of Structure Ceramic Used in Electronic Components Determination of Microstructure
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：3頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法:顯微結構的測定(GB 5594.8-1985)》由中國標準出版社出版。
