雷射燒蝕固體取樣系統

雷射燒蝕固體取樣系統是一種用於地球科學領域的雷射器，於2010年12月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射燒蝕固體取樣系統
• 產地：美國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2010年12月14日
• 所屬類別：雷射器 > 雷射器 > 雷射器

技術指標

體準分子雷射；波長：193nm；光斑：2-150μm; 能量：12J/cm2； 穩定性（2σ）：6%。

主要功能

雷射剝蝕固體或粉末地質樣品，並使之氣化，和MC ICP-MS連線，測試樣品同位素比值等。