雷射平面干涉儀

是一種使用方便的光學精密計量儀器,主要用於精密測量光學平面度。
雷射平面干涉儀工作時對防震要求一般。該儀器可套用於光學車間、實驗室、計量室。如配購相關的必要附屬檔案,可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性,光學鍍膜面或金屬塊規表面的平面度,90o稜角的直角誤差及角錐稜鏡單角和綜合誤差。   
PG30-JE(歐卡光學)PG30-JE(歐卡光學)

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