雷射共聚焦顯微分析系統

雷射共聚焦顯微分析系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年12月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射共聚焦顯微分析系統
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2013年12月24日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡

技術指標

1、鏡體：Axio Scope 、Axio Imager、Axio Observer 2、雷射器：半導體雷射器405、445、488、555、639nm，所有雷射器強度可調,不使用時自動 關閉。 3、觀察方式：明場、暗場、偏光、微分干涉、螢光 4、分析通道：反射光、透射光、螢光通道 5、PMT探測器：光譜精度為1nm 6、變焦比：0.5x-40x，步進精度0.1 7、掃描解析度：4x1-2048x2048連續可調 8、Z軸解析度：10nm 9、掃描視。

主要功能

觀察材料表面三維形貌。