離子散射譜法是2016年公布的化學名詞。
| 中文名稱 | 離子散射譜法 |
| 英文名稱 | ion-scattering spectroscopy |
| 定 義 | 使離子束傾斜入射，在一定角度上測量散射離子能譜，除氫、氦外可分析全部元素和同位素。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科） |
低能離子散射譜法 低能離子散射譜法（low energy ion scattering spectroscopy，LEIS）是2016年公布的化學名詞。公布時間 2016年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《化學名詞》 (第二版)
11.4.2 X射線光電子能譜法 11.4.3 離子散射譜 11.4.4 二次離子質譜 11.4.5 原子力顯微技術 11.4.6 界面面積測量 11.5 聚合物共混物界面 11.6 固體-高分子溶液界面 11.6.1 高分子在固體表面的吸附 11.6.2 高分子...
11.4.2X射線光電子能譜法 11.4.3離子散射譜 11.4.4二次離子質譜 11.4.5原子力顯微技術 11.4.6界面面積測量 11.5聚合物共混物界面 11.6固體-高分子溶液界面 11.6.1高分子在固體表面的吸附 11.6.2高分子在膠體體系中的套用 11.7聚合...
11.4.2X射線光電子能譜法331 11.4.3離子散射譜331 11.4.4二次離子質譜333 11.4.5原子力顯微技術333 11.4.6界面面積測量334 11.5聚合物共混物界面334 11.6聚合物表面改性技術336 11.6.1表面接枝336 11.6.2火焰處理337 ...
