《隨鑽方位密度測井數據處理與解釋》是2020年化學工業出版社出版的圖書。
基本介紹
- 中文名：隨鑽方位密度測井數據處理與解釋
- 作者：張麗,孫建孟,高衛富
- 類別： 科學新知
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間：2020年
- ISBN：9787122355423
內容簡介,目錄,
內容簡介
隨著石油勘探開發的逐步深入，大斜度井、水平井開發成為鑽井施工的主要內容。隨鑽測井技術中隨鑽方位密度測井技術由於能夠提供地層分界面、地層傾角信息且實時地質導向，在測井技術中逐步發展起來，與之相關的數據處理方法和解釋方法也成為研究的重點。本書系統介紹了如何根據隨鑽方位密度測井技術獲取的譜數據得到地層的密度信息，進而進行密度成像，用於各種地質解釋。本書可供地質、測井等相關工程類專業工程設計人員以及本科生、研究生參考。
目錄
封面
版權資訊
前言
第一章 緒論
第一節 核物理基礎
一、放射性
二、γ射線與物質的相互作用
第二節 密度測井
一、密度測井原理
二、隨鑽方位密度測井原理
第三節 隨鑽密度測井的發展
一、密度測井儀研究進展
二、方位密度套用研究進展
第二章 隨鑽方位密度測井蒙特卡羅模擬
第一節 蒙特卡羅方法簡介
第二節 儀器模型構建
一、模型描述
二、模型構建
第三節 能窗劃分方法
一、劃分依據
二、不同泥漿條件下探測器能窗劃分
三、儀器能窗的確定
第四節 儀器探測特性研究
一、不同井斜角下幾何因子
二、探測特性分析
第三章 譜數據處理及刻度方法
第一節 譜數據處理軟體
第二節 譜數據處理方法
一、譜數據平滑、濾波
二、譜數據尋峰
三、譜數據能量刻度
四、本底扣除及死時間校正
第三節 刻度方法研究
一、一級刻度
二、二級刻度
三、密度和岩性指數Pe計算
第四節 譜數據處理方法驗證
第四章 隨鑽方位密度影響因素分析及校正
第一節 方位密度敏感性分析
一、方位密度敏感性模擬
二、密度值差下方位密度敏感性分析
第二節 井眼因素影響及校正
一、井徑和間隙影響因素的模擬
二、井徑和間隙校正
第三節 不同井斜角下層厚的影響及校正
一、不同井斜角下層厚影響因素的模擬
二、不同井斜角下層厚影響的校正
第五章 隨鑽方位密度成像測井套用研究
第一節 方位密度成像方法
一、數據預處理
二、圖像色度標定
三、圖像生成與顯示
四、圖像插值技術
五、圖像處理方法
六、密度圖像實例
第二節 方位密度圖像的套用
一、識別地層界面
二、求取地層傾角
三、實時地質導向
第六章 隨鑽脈衝中子源密度測井技術發展
第一節 脈衝中子源密度測井基礎
第二節 脈衝中子源密度測井原理
第三節 D-D中子源密度測量研究
參考文獻
