銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法

銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法

《中華人民共和國國家標準:銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法(GB 11297.7-1989)》適用於長方體和薄片銻化銦單晶樣品的電阻率和霍耳係數的測量。本方法所採用的樣品是從銻化銦單晶中切割製備的,在特定位置上施加電極接觸,用直流方法測量樣品的電阻率和霍耳係數,而後計算該樣品的載流子濃度和載流子遷移率。

基本介紹

  • 中文名:銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法
  • 外文名:Test Method for Resistivity and Hall Coefficient in InSb Single Crystals
  • 作者:國家技術監督局
  • 出版日期:1989年1月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:1550660112977
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:24頁
  • 開本:16
《中華人民共和國國家標準:銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法(GB 11297.7-1989)》由中國標準出版社出版。

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