量子器件噪聲測試系統

量子器件噪聲測試系統

量子器件噪聲測試系統是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程領域的電子測量儀器,於2014年12月4日啟用。

基本介紹

  • 中文名:量子器件噪聲測試系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:物理學、材料科學、動力與電氣工程
  • 啟用日期:2014年12月4日
  • 所屬類別:電子測量儀器 > 網路分析儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

1.系統噪聲:-177dBV2/Hz@100KHz。;2.頻率回響範圍:1Hz-40MHz。;3.前置放大器指標:輸入電壓噪聲0.9nV/Hz1/2@100kHz,輸入電流噪聲0.1pA/Hz1/2@1kHz。;4.DUT阻抗匹配:輸入電阻RSOURCE:0-100M?,輸出電阻RLOAD:10-1M。;5.輸出電壓、電流範圍:輸出電壓範圍+/-50V,輸出電流範圍+/-100mA。;6.RTS噪聲測試:最成熟時域RTS噪聲測量及分析解決方案。;7.先進動態信號分析儀支持情況:業內唯一支持先進信號分析儀E5052B,結合最新測試算法,大幅提高測試速度。

主要功能

主要功能是對量子器件進行低頻(1/f)噪聲測試。精確測量被測器件的1/f和RTS噪聲,噪聲測試結果能夠用來分析器件的缺陷密度,檢測器件的可靠性。同時噪聲測試結果也可以用於噪聲建模,為器件研究提供理論支撐。

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