透射電鏡原位熱學測試樣品桿

透射電鏡原位熱學測試樣品桿是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：透射電鏡原位熱學測試樣品桿
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年12月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

1.加溫速度：大於100攝氏度/秒；2.溫度穩定性：小於0.03攝氏度；3.兼容JOEL ARM200F球差矯正透射電鏡。

主要功能

通過原位熱學樣品桿對透射薄片樣品進行MEMS加熱，並取能夠保證樣品在透射電鏡中同時進行微觀結構表征。