近紅外成像探測器

近紅外成像探測器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年12月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：近紅外成像探測器
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2017年12月8日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀

技術指標

解析度：640*512，像素大小：20um*20um，幀數：2fps全幅@250kHz，製冷溫度：-190℃，光譜範圍：950nm-1550nm@-180℃，曝光時間：0.05ms – 3.3*10^4s，暗電流：10e-/s/pixel，量子效率：1300nm-1500nm大於72%。

主要功能

對近紅外波段納米材料發光進行成像觀測。