近場顯微鏡是一種用於物理學領域的計量儀器，於2017年3月7日啟用。
基本介紹
- 中文名：近場顯微鏡
- 產地：俄羅斯聯邦
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2017年3月7日
- 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 超導強磁場標準
技術指標,主要功能,
技術指標
Ntegra Spectra。
主要功能
近場顯微鏡。
近場顯微鏡是一種用於物理學領域的計量儀器，於2017年3月7日啟用。
近場顯微鏡 近場顯微鏡是一種用於物理學領域的計量儀器，於2017年3月7日啟用。技術指標 Ntegra Spectra。主要功能 近場顯微鏡。
近場掃描光學顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年06月09日啟用。技術指標 正置和倒置光學底座； 掃描範圍：90*90微米； 工作模式：透射、收集、反射、針尖增強拉曼； 光學信號探測模式：光強、螢光、光譜。主要功能 表面形貌、電學性質、磁學性質、近場光學性質、力學性質、納米刻蝕及操縱、定性...
新型的近場光學顯微鏡( NSOM——Near-field Scanning Optical Microscope，或稱 SNOM)的出現使人們的視野由入射光波長一半的尺度拓展到波長的幾十分之一，即納米尺度。在近場光學顯微鏡中，傳統光學儀器中的鏡頭被細小的光學探針所代替，其尖端的孔徑遠小於光的波長。早在1928年, Synge提出：用入射光透過孔徑為10nm ...
近場顯微術，利用近場光學訊號的特性提高解析度的顯微鏡技術。將一個亞微米尺度的光學探針置於離樣品表面遠小於一個波長的近場距離，通過探針尖的小孔發射出光線，根據樣品表面產生的光學訊號探測樣品納米結構的圖像。它不受光學衍射極限的限制。常用來對生物大分子作單分子測量，結合螢光標記能觀察分子及細胞的動態圖像，...
散射式近場光學顯微鏡NeaSNOM，具有如下的特點：獨有的極高空間解析度10nm；可適用於可見、紅外和太赫茲光譜範圍；近場振幅和相位分辨測量功能；納米尺度下，用於FTIR吸收光譜研究；極高的解析度下，研究有機或無機樣品，整個操作僅需要常規的AFM樣品準備過程。因此，推動了等離激元研究、 石墨烯研究和納米尺度(＜20nm)...
近場共聚焦顯微鏡是一種用於化學領域的物理性能測試儀器，於2012年07月10日啟用。技術指標 突破光學衍射極限的空間解析度60nm，。主要功能 用於發展高解析度局域探針顯微術與超快光譜技術的高效聯用技術，以實現對凝聚相分子和生物分子以及微納材料等複雜分子體系所涉量子態的表征、檢測與調控。可套用於材料科學、有機...
掃描近場顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年07月01日啟用。技術指標 1\探針掃描的工作方式和精度 ？ 具有樣品掃描工作模式(即樣品台掃描方式)，探針與樣品間距採用音叉式輕敲方式控制，具有自動進針功能 ？ 樣品台xy調節範圍：≥5毫米，馬達調節，精度0.25微米。 ？ 系統樣品尺寸最大16毫米 ？ 樣品...
超快共焦掃描近場顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2014年12月12日啟用。技術指標 光譜儀：300mm焦距，f/4；通光量 70％；600g/mm和1800g/mm光柵.x、y、z方向自動樣品定位最大樣品高度：10mm（對於更高的樣品可以選擇相應配件），PZT掃描台，掃描範圍200x200x2um;掃描準確度4x4x0.5nm; ...
散射型近場光學顯微鏡 散射型近場光學顯微鏡是一種用於數學、化學領域的計量儀器，於2016年1月1日啟用。技術指標 橫向解析度（含光學）：~30nm，縱向解析度：~2nm。主要功能 近場光學信號測量，超分辨光學測量。
《用雙色螢光近場顯微技術研究細胞信息的跨膜傳遞》是依託清華大學，由王剛擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 建立一套適合於進行細胞膜信息傳遞功能研究的掃描近場光學顯微鏡，採用雙色螢光探測技術，高速掃描結構及適於在液體環境下工作的探頭控制機制，可實現對膜上受體分子的活體動態探測，並可研究它與刺激...
關鍵是：金屬膜/小孔結構/隱周期小孔陣列的研究，三者緊密關聯且本質地將近場理論、表面等離激元、阿達瑪變換光學結合，核心是小孔結構及小孔構成的隱周期陣列。理論與實驗進展表明，合適的異型小孔陣列能更好地利用表面等離激元亞波長光學的優點，具有一或者更大的透光效率，能更大促成太赫茲波段超分辨顯微鏡的實現。結...
《非探針掃描近場光學顯微成像術研究》是依託華中科技大學，由葉梅擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 提出了無探針的近場光學顯微鏡，用三塊碼板代替探針系統免去了針到樣品間距的控制，空出了樣品上或下半空間供其它探測或操作，且極大增加了對欲加於樣品上電磁場的耐受能力。給細胞及其受外場影響熱點研究提供了新...
for an attocube system microscope for 600nm module to fit into an ARC casing.。主要功能 掃描近場光學顯微鏡基於音叉切變力探測體系，通過直接接近樣品表面的方法對一個亞波長尺度的光圈進行掃描。 主要附屬檔案及功能： Attocube相關係統；位置控制台和基於壓電石英音叉的力學探測器; 強磁場源及Lakeshore磁場控制器。
太赫茲近場掃描顯微系統 太赫茲近場掃描顯微系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年11月17日啟用。技術指標 TP800-SNTM。主要功能 太赫茲態分析。
對照研究計畫要點，課題組執行項目期間首先完成了搭建以雙壓電陶瓷片力感測器為核心的掃描探針顯微成像系統；並與倒置光學顯微鏡相結合以實現探針/樣品的觀測及定位；實現了系統掃描成像與光譜儀同步的控制方法。然後，作為成像系統的關鍵技術之一，課題組著重對系統的掃描定位方法開展了研究；基於組合式三維掃描方式，完成了...
近場光學技術 近場光學技術最早是 H Synge 在1928 年提出的一種近場成像概念設計：入射光透過 10nm 的小孔 ，照射相距 10nm 的樣品，以 10nm 步長掃描，同時收集微小照明區的光學信號，這樣就能夠克服衍射極限 ，獲得超高光學解析度。如圖1所示。在近場光學顯微鏡 (或稱掃描近場光學顯微鏡———scanning near2field...
突破光學衍射極限的辦法之一是近場光學顯微鏡，它是利用探針探測樣品表面的隱失場而獲得樣品表面信息。受激發射損耗（STED）螢光顯微術是一種可以突破光學衍射極限的遠場光學顯微術。背景 隨著科學技術的不斷進步，生物醫學，材料學領域開始對亞百納米尺度的微結構進行觀測與分析，從而對顯微技術的發展提出了更高的要求...
最大樣品大小直徑大於120mm，樣品粗調不小於20mm用於飛秒的探針空間解析度優於100nm，可以將390nm~980nm的飛秒雷射耦合至近場局域進行局域激發，確保800nm的飛秒展寬不超過20%。光學損傷閾值大於等於1GW/cm2。主要功能 實現樣品的表面形貌、光學及其光譜的表征，包括共焦顯微鏡成像，原子力成像和近場掃描光學成像。
1.能夠實現掃描近場光學顯微鏡、原子力顯微鏡的探測、成像，可用於對樣品的微區表面近場光學信息、納米尺度形貌等的檢測以及微納表面結構加工技術研究。 2．具備掃描近場光學顯微鏡的多種工作模式，如：SNOM收集模式和剪下力模式等； 3．具有原子力顯微鏡的常用工作模式，如：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、摩擦力...
近場光學測試系統 近場光學測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2009年03月10日啟用。技術指標 AFM表征橫向解析度為25nm；近場表征橫向解析度為50nm。主要功能 用於表征樣品表面的近場分布。
第二篇介紹近場阿達瑪變換光學成像，包括近場阿達瑪變換光學成像概述、用於近場光學成像研究的各種巨觀理論、微觀傳播子自洽場理論對近場光學顯微鏡的研究、近場光學顯微鏡的一種新模型——準靜態電磁場、亞波長小孔中的光、非探針紅外近場光學顯微鏡關鍵技術的研究、非探針紅外近場光學顯微鏡的成像測量等內容。第三篇...
利用針頭狀導電樣品在高電場區發生場電離和場發射所產生的離子進行質譜分析。優點是針頭直徑要小到1至幾個原子，且取樣深度僅1個原子層，其探測限可低到1個原子。缺點是對樣品要求高，且有破壞性。近場顯微鏡 上述幾種成分分析技術橫向解析度僅為1微米，而原子探針套用中又有局限性，所以根本不能滿足超微小型化成分...
在此基礎上，利用廣角X-光衍射、小角X-光散射、掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）、原子力顯微鏡（AFM）、近場顯微鏡（SNOM）和動態力學分析（DMA）等系統研究上述聚合物的層次結構和粘彈性行為。通過測定光致應力應變、形變速率和飽和值等表征光致形變性能。通過建立模型和理論計算，從理論上探索光致形變效應的機理...
它採用微光纖形成的表面高頻倏逝場來照明樣品，通過收集樣品表面倏逝波散射信號來實現寬場超分辨顯微成像的目的。徹底改變了傳統近場光學顯微鏡利用微光纖納米端頭近場照明、近場探測，掃描成像的模式，實現了近場照明、遠場寬場的超分成像，因此該技術具有使用方便，無需螢光標記、對樣品選擇性小等特點，具有更為...
孤獨原子對於強勁與超短時電磁場的非線性回響、原子-腔相互作用、電磁場的量子性質，這些高階論題近期也是光物理學的重點項目。其它重要領域包括納米光學測量所使用的嶄新光學技術、衍射光學、低相干干涉測量術（low-coherence interferometry）、光學相干斷層掃描、近場顯微鏡（near-field microscopy）等等。光物理學的研究...
在原子力顯微鏡、近場光顯微鏡、納米壓印、光學輪廓儀等領域，擁有一支在納米檢測領域經驗豐富、技術過硬的團隊。能夠出色地完成售中、售後的全方位服務。隨著微納米領域的不斷革新，上海納騰儀器有限公司一如既往加強與各大高校、科研院所的合作，進而推出各類套用於化學、生物、物理等領域的優秀產品。Shanghai NTI Co....
掃描共聚焦拉曼與多場聯用系統是一種用於物理學、材料科學、化學領域的分析儀器，於2018年12月11日啟用。技術指標 1.共聚焦拉曼顯微系統（1）焦長≥300nm;(2)光譜解析度：≤1.5cm-1,重複性≤0.02 cm-1；（3）CCD探測器每點最短積分時間≤10ms。2.掃描近場光學顯微鏡：波長範圍回響：350-1000nm，探針近場...