輝光光譜分析儀

輝光光譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2007年01月17日啟用。

基本介紹

• 中文名：輝光光譜分析儀
• 產地：法國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2007年01月17日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

光譜範圍:110nm-800nm 光柵:高解析度離子刻蝕全息閃耀光柵3000線/毫米實際解析度0.014nm,64個通道 ,。

主要功能

適用於導體和非導體的基體和逐層分析，分析深度從幾個納米至三百個微米。