超高智慧型粒度分析儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的物理性能測試儀器，於2015年4月22日啟用。
基本介紹
- 中文名：超高智慧型粒度分析儀
- 產地：英國
- 學科領域：化學、材料科學、化學工程
- 啟用日期：2015年4月22日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀
技術指標,主要功能,
技術指標
一、 主機性能要求： 1. 原理：雷射衍射； 2. *測量範圍：0.01-3100微米。 3. 分析理論：米氏及夫琅霍夫理論； 4. *數據採集速度：8KHz; 5. *典型測量時間：10秒； 6. 紅光光源：高穩定氦-氖雷射器，波長為632.8納米，功率不低於2MW; 7. 藍光光源：8MW LED，波長470納米。 8. *鏡頭排列：採用反傅立葉光路設計。 9. 有效焦距：300mm; 10. *檢測器：非均勻交叉面積補償三維立體系統，對數間隔排列。 11. 角度範圍：0.015-138度。
主要功能
結晶、造粒、乾燥等製藥過程產品粒度的測量。
