超快光譜測試系統是一種用於材料科學、物理學領域的物理性能測試儀器，於2018年1月5日啟用。
基本介紹
- 中文名：超快光譜測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：材料科學、物理學
- 啟用日期：2018年1月5日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
主要技術指標： 1. 雷射光察兆說源： 1) 脈寬：<400fs *2) 調諧波段：250-2200nm 3) 平均輸出功率:>200mW@650nm *4) 脈衝能量:>1μJ 5) 重複頻率:≥阿埋采200KHz 2. TCSPC設備 1) 時間通道寬度：最小可達813fs 2) 電子時間解析度：6.6ps fwhm， 2.5ps rms 3) TAC/ADC時間範圍： 3.3ns to 5μs *4) 計數率：10MHz （總計20Mhz） 5) 圖像最高解析度：最高可達8192×8192 6) 功能：FLIM、FCS、FCCS、FLITS、PLIM、Z-stack FLIM、Mosaic FLIM 3. 探測器 1) 回響範圍：300nm to 720nm 2) 量子效率：45% at 500nm 3) 脈衝渡越時間：120ps，FWHM 4) 過載保護：過載自動切斷高壓 4. PLIM組件 1) 信號延遲通道： 6 2) 延遲解析度： 1.25ns 3) 延遲信號脈寬： 10ns-5.2ms 4) 最大延遲時間： 42.9s 5. 軟體功能 1) 可通過軟體選擇最優的工作模式 2) 調用。
主要功能
主要功能： 該系統主要由可調諧飛秒雷射系統和時間相關光譜成像部件祖阿朽組成，可實現軟體全自動控制的寬頻短脈衝雷射調諧輸出，以及紫外可見波段鞏嫌項抹的發光短壽命探測。並可配合共焦掃描顯微系統完成靈夜舟頁碑活多變的多光子轉化材料和器件以及生物組織多光子和壽命顯微成像；可對光子學功能材料等進行更全面的顯微-巨觀光電性能評價。具體如： 1. 可實現對微納光子器件的穩瞬態光電特性測試。 2. 搭配共焦顯微鏡完成樣品的微區螢光壽地犁命挨鞏祝成像和分析； 2. 實現FRET-FLIM實驗； 4. 實現對單分子樣品的螢光檢測； 5. 可用於磷光壽命成像和分析。
