超導量子電路測試系統

超導量子電路測試系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的電子測量儀器，於2017年12月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：超導量子電路測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2017年12月8日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 大規模積體電路測試儀器

技術指標

輸入輸出通道： 64個；讀取通道： 20-40個；讀取頻率：0.5 MHz - 10 GHz；電壓精度： 1 μV ；電流源幅值：3 mA - 50 mA；電流精度： 0.5μA； 信號頻率：0.5 MHz – 10 GHz； 信號精度： 10 μV ；軟體支持：用戶可程式自動測量。

主要功能

用於測量SNSPD系統中讀出電路的工作性能，用於超導感測器、探測器讀出電路套用研究。