負偏置溫度不穩定性(英語:Negative-biastemperatureinstability,NBTI)是影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的一個重要問題,它主要表現為閾值電壓的偏移。
負偏置溫度不穩定性(英語:Negative-biastemperatureinstability,NBTI)是影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的一個重要問題,它主要表現為閾值電壓的偏移。 ...
5.1.4 PMOSFET負偏置溫度不穩定性 (164)5.1.5 CMOS電路的閂鎖效應(Latch—up) (178)5.2 與封裝有關的失效機理 (180)5.2.1 封裝材料?射線引起的軟...
本書的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的電晶體老化效應--負偏置溫度不穩定性(NBTI) 。介紹了NBTI效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響。從...
4.3.4 Negative Bias Temperature Instability 負偏置溫度不穩定性 1544.3.5 Parasitic Channels and Charge Spreading 寄生溝道和電荷分散 156...