角分辨及微區顯微光譜儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2018年10月19日啟用。
基本介紹
- 中文名:角分辨及微區顯微光譜儀
- 產地:中國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2018年10月19日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1.角分辨光譜儀 探測範圍:360-1100nm 光譜解析度:1.98nm 角分辨範圍:-60~60° 角解析度:4° 2.微區顯微螢光測量 光纖:360-2500nm 探頭:200-1100nm 3.近紅外光譜儀NIR1700 探測範圍:900-1700nm。
主要功能
可實現角分辨穩態光譜測試,可實現微區顯微光譜測試,可測量900-1700nm波段的近紅外螢光光譜。