膠體體系―zeta電位測量方法第2部分：光學法

《膠體體系―zeta電位測量方法第2部分：光學法》是2020年3月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：膠體體系―zeta電位測量方法第2部分：光學法
• 標準號：GB/T 32671.2-2019
• 標準類別：方法
• 中國標準分類號：A19
• 國際標準分類號：19.120

編輯進程

2019年8月30日，《膠體體系―zeta電位測量方法第2部分：光學法》發布。

2020年3月1日，《膠體體系―zeta電位測量方法第2部分：光學法》實施。

起草工作

主要起草單位：上海市計量測試技術研究院、上海理工大學、珠海真理光學儀器有限公司、中國計量大學、中機生產力促進中心、麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司、蕪湖鼎恆材料技術有限公司。

主要起草人：吳立敏、厲艷君、蔡小舒、許人良、王蓉蓉、朱培武、侯長革、郝萍、張福根、薛衛昌。