聯合樣品表面處理系統是一種用於地球科學、考古學領域的分析儀器,於2015年1月12日啟用。
基本介紹
- 中文名:聯合樣品表面處理系統
- 產地:德國
- 學科領域:地球科學、考古學
- 啟用日期:2015年1月12日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
TXP制樣時採用體視鏡現場觀察制樣情況;自動程式操作鏡面效果制樣切片,磨片,拋光機一體化設計,簡便,快捷 精確制樣,可精確定位。 顯微鏡觀測為帶智慧型光和對比度管理的高端偏光顯微鏡。它使用機械Z-電機和機械台來運行。切換到不同的放大倍率時圖像的亮度保持不變,對比度很鮮明。對比度和光管理器會將顯微鏡自動調節到最佳的圖像質量。自動讀出照明設定和放大倍率,重現性好、結果可靠。
主要功能
切制樣品並研究觀測透明與不透明各向異性材料及具有雙折射的物質。