綜合物理測試系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2016年7月19日啟用。
基本介紹
- 中文名：綜合物理測試系統
- 產地：美國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2016年7月19日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
溫度範圍：1.9K － 400K 連續控制，溫度掃描速率：0.01 － 8 K/min，溫度穩定性：±0.2% T 10K，±0.02% T 10K 磁場範圍：±16T，磁場解析度： 0.1 Oe，磁場穩定性： 1PPM/hour 變場速率： 10－200 Oe/s，剩磁（振盪模式）： 5 Oe。
主要功能
磁學參數測量：獲得樣品的交直流磁化率、磁滯回線、磁化強度等；電輸運參數測量：獲得樣品的電阻率、磁電阻、霍爾係數、伏安特性曲線等；熱學參數測量：獲得不同溫度下樣品的比熱係數。
